Janus MoSi2N2P2 单层在纳米器件和光电晶体管中的应用

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研究背景 二维 MA2Z4 材料因具有优异的热稳定性、力学稳定性、可调电子结构和较高载流子迁移率,已成为低维电子学和光电子学中的重要候选体系。Janus 结构通过在材料上下表面引入不同原子层,打破面外对称性,为调控能带、极化、输运和光响应提供了新的自由度。此前 Janus MoSi2N2P2 的稳定性和光学性质已有理论预测,但其电子输运、场效应调控和光电响应等器件行为仍需进一步阐明。 研究内容 该研究首先构建了 α1 和 α2 相的 MoSi2N2P2、Mo(SiNP)2-A 和 Mo(SiNP)2-B 单层,并对其进行结构优化。声子谱、AIMD 热稳定性和弹性常数计算表明,这些二维单层具有良好的结构稳定性、热稳定性和力学稳定性。其中 MoSi2N2P2 单层兼具较好的柔性和尺寸稳定性,适合进一步用于柔性、超薄纳米电子器件的设计。 图 1. α1 和 α2 相的 MoSi2N2P2、Mo(SiNP)2-A 和 Mo(SiNP)2-B 单层的俯视图和侧视图(不同颜色小球分别表示 Mo、Si、N 和 P 原子) 在电子结构方面,能带和态密度结果显示,MoSi2N2P2 单层具有较窄带隙,有利于低电压下载流子注入和调制。进一步计算载流子迁移率,发现 Janus MoSi2N2P2 在 x 方向的迁移率高于 y 方向;其中 α1 相在 x 方向的载流子迁移率相较 MoSi2N4 有明显提升,并可与 MoSi2P4 的性能相媲美。 图 2. MoSi2N4、MoSi2P4 以及不同 Janus MoSi2N2P2 相关单层的投影能带结构和态密度。 随后,构建基于 Janus MoSi2N2P2 的 p-n 结二极管,并分别考察 zigzag 与 armchair 方向的电子输运特性。结果表明,该类器件具有明显整流效应;其中 α1 相 Z-type p-n 结在中等掺杂浓度下峰值电流密度达到 270.37 mA/mm2,并表现出负微分电阻现象,显示其在低维整流器和多值逻辑器件中的应用潜力。 […]

QuantumATK 低维电子材料与器件合集(八)

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Cs3Cu2I5 中双功能氨基酸的烷基链工程实现优异的光电性能 无铅的 Cs3Cu2I5 钙钛矿具有低维结构和自捕获激子发射的特点,在可持续光电子学方面具有重要的前景。虽然机械球磨有环境友好和可扩展的优势,但合成 Cs3Cu2I5 的光电性能往往受到铣削过程中引起的晶格畸变、表面缺陷和颗粒团聚的限制。为了克服这些挑战,通过理论计算和实验验证相结合的方法,提出一种基于氨基酸的烷基链工程钝化策略。密度泛函理论表明,多功能氨基酸和烷基链协同钝化了 Cs3Cu2I5 表面缺乏配位的 Cu+ 和易于产生深层次缺陷的碘空位。有趣的是,延长的烷基链显著增强了改性效果。随后的实验和计算进一步证实,较长的烷基链通过氢键网络、位阻和内部电场与多个官能团相互作用,有效增强了光致发光、延长载流子寿命、抑制聚集、提高晶粒致密性。值得强调的是,5 – AVA 修饰的 Cs3Cu2I5 获得 75.6% 的 PLQY(增强 56.8%),延长了 12.6% 的载流子寿命,并显著增强紫外区光响应。此外,用这种分子工程绿色钙钛矿制作的光电探测器在 PDRC 和开关比方面分别提高了近 4 倍和 171%。这种理论指导的烷基链工程分子协同多官能团钝化策略为绿色合成光电性能优越、环保无铅的铜基钙钛矿建立了强大的框架。(Journal of Materials Chemistry C, 2025, 46: 23134-23148. DOI:10.1039/D5TC02973B)  单层 1T’ ZrCl2 中的铁弹性相变调制电子传输和光电特性 单层 1T’ ZrCl2 具有独特的铁弹性行为,具有三种结构不同的变体(O1、O2、O3),为下一代纳米电子和光电子器件提供了潜力。本文研究了 O1 和 O3 变体的电子输运和光电子性质,其中 O3 由于其结构对称而成为 O2 和 O3 的代表。第一性原理计算和非平衡格林函数分析表明,O1 变异体具有优异的电子特性,包括高电子迁移率(1.44 × 104 cm2/V·s)和大电流开关比(106),而 O3 变异体在两个晶体学方向上都表现出高导电性。光电性能方面,O1 变体具有较强的各向异性,最大光电流密度为 6.57 μA/mm2,光响应率为 0.37 A/W,沿 a 方向的外量子效率为 41.08%,优于许多二维材料,而沿 b 方向的响应可以忽略不计。相比之下,O3 变体表现出更平衡的光响应,在两个方向上具有相当的性能。这些发现为铁弹性二维材料的结构-性能关系提供了见解,并为开发基于相变的多功能器件铺平了道路,这些器件可用于信息处理、能量转换和传感。(Physical Chemistry Chemical Physics, 2024, 3: 1648-1660. DOI:10.1039/D4CP04315D) 二维 Si2Te2 单层及 Si2Te2/Sb2Te3 异质结:有前景的红外光电探测器材料 近年来,基于硅的二维材料(如 Si2Te2 单层和 Si2Te2/Sb2Te3 范德华(vdW)异质结)的实验实现,因其具有窄带隙特性而被广泛应用于光电设备中,这对红外(IR)光谱范围至关重要。本文基于密度泛函理论计算和非平衡格林函数模拟,系统研究了 Si2Te2 单层及 Si2Te2/Sb2Te3 vdW 异质结的光电性能,揭示 Si2Te2/Sb2Te3 vdW 异质结的堆叠构型、化学键合特征及电子结构。此外,p-i-n 结的模拟结果表明,Si2Te2 单层在中红外区域实现了高达 0.64 A W-1 的最大光响应率,同时保持良好的光电流密度。值得注意的是,基于 Si2Te2/Sb2Te3 vdW 异质结的 p-i-n 结在近红外区域达到了显著的最高光电流密度 27.33 A m-2 和 1.24 A W-1 的光响应率。这项工作有望为利用基于 Si2Te2 的二维材料设计高性能红外光电探测器提供宝贵的见解。(Journal of Materials Chemistry C, 2025, 30: 15372-15383. DOI:10.1039/D5TC01609F) 二维 Bi2O2S 中的线缺陷强红外区域光电流 二维 Bi2O2S 是近年来实验合成的一种离子层状材料,本研究结合密度泛函理论和非平衡格林函数方法,研究了二维 Bi2O2S 中吸附型、空位型、反位型和交换型线缺陷的结构、电子和光电性质。结果表明,吸附型线缺陷能增强二维 Bi2O2S 的热力学稳定性,而空位型和交换型线缺陷则会削弱其热力学稳定性。然而,反位型线缺陷具有复杂的热力学行为。线缺陷通常会对二维 Bi2O2S 的空穴有效质量产生巨大影响,并观察到线缺陷诱导的金属化现象或可调带隙。此外,线缺陷在可见光区具有丰富的光电子特性,在紫外区则抑制光电流。特别的是,在红外区域发现了增强的光电流。(Journal of Materials Chemistry C, 2024, […]

面向亚 5 nm MOSFET 的 Si 兼容高性能二维纳电子器件

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研究背景 随着集成电路器件尺寸持续向亚 5 nm 尺度推进,传统硅基 MOSFET 在短沟道效应、量子隧穿及功耗控制等方面面临严重瓶颈,难以满足未来高性能与低功耗芯片的发展需求。如何在极限尺度下实现高驱动电流、低泄漏及良好的栅控能力,并能够与现有硅基工艺相兼容,有效利用现有器件制造技术,成为下一代晶体管研究和应用亟须解决的关键问题。 研究内容 该研究针对超短沟道 MOSFET 性能提升这一核心问题,基于一类具有硅基工艺高度兼容性的二维单层材料 MNH2(M, N = C, Si, Ge),在保证高载流子输运能力的同时实现与现有工艺体系的良好兼容,为器件实际应用提供基础。该工作系统地开展了器件物理与量子输运研究,并构建适用于亚 5 nm 尺度的双栅 MOSFET 模型,深入分析其输运特性与性能极限。 图 1. MNH2单层几何结构及电子性质 研究结果表明,通过引入 Underlap 结构对沟道势垒进行调控可有效抑制短沟道效应并降低漏电流,从而在保证高导通电流的同时实现低功耗运行。通过系统分析不同结构参数对器件性能的影响,揭示了超短沟道条件下电流输运由隧穿机制向热发射机制转变的关键物理过程,从机理上实现器件性能的优化与提升。 图 2. 二维 MNH2 MOSFET 器件结构及输运特性 在器件性能方面,基于 MNH2 材料构建的 MOSFET 在亚 5 nm 尺度下表现出显著优势。在 5 nm 栅长条件下,器件导通电流最高可达 4157 μA/μm(n 型)和 3527 μA/μm(p 型),显著优于多数已报道的二维半导体器件。同时,器件的亚阈值摆幅最低可达 58 mV/dec,接近传统 MOSFET 理论极限,表明其具有优异的栅控能力和开关特性。 图 3. 二维 MNH2 MOSFET 开态电流特性比较 在动态性能方面,该类器件的延迟时间和功耗延迟积均远低于国际半导体技术路线图(ITRS)2028 指标要求,体现出良好的高速与低功耗特性。此外,在栅长进一步缩小至 3 nm 时,器件仍能够保持较高性能并满足高性能应用需求,显示出优异的尺度可扩展能力。与现有二维材料相比,该体系在驱动电流、功耗及综合性能方面具有明显优势,同时具备良好的工艺兼容性,为实际应用提供了重要基础。 值得注意的是,该体系呈现出良好的 n-p 对称性,适于用作 CMOS 器件。该研究系统证明了 MNH2 二维材料在亚 5 nm MOSFET 中的应用潜力,实现了高性能、低功耗与工艺兼容性的综合平衡,为后硅时代晶体管设计提供了新的技术路径和理论依据。 图 4. 二维 MNH2 MOSFET 功耗延迟积特性比较 总结 该研究面向先进微电子与集成电路领域,在下一代超大规模集成电路、低功耗高性能芯片以及新型二维半导体器件中具有重要应用前景。由于 MNH2 材料体系在电学性能与硅基工艺兼容性之间实现了良好平衡,可作为亚 5 nm 及以下节点 MOSFET 的潜在候选沟道材料,为先进制程技术提供新的解决方案。 在高性能计算、人工智能芯片以及移动终端等领域对器件功耗与性能的要求不断提升,该研究提出的材料与器件有望显著提升芯片能效比。同时,由于其 n 型和 p 型器件性能均衡,具备良好的 CMOS 集成潜力,可支持未来新型逻辑器件的发展。随着后硅时代电子技术的持续演进,该成果有望在纳米电子器件及高端芯片制造中发挥重要作用,具有良好的应用前景与推广价值。 参考文献 Hao-Ran Hu, Yan-Dong Guo, et al. Monolayer MNH2 (M, N = C, Si, Ge): Enabling sub-5-nm MOSFETs compatible with silicon-based manufacturing. Physical Review Applied, 2026, 25, 014058 […]

QuantumATK 低维电子材料与器件合集(七)

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基于 WTe2 单层的超灵敏、可回收 FET 型有毒气体传感器 场效应晶体管(FET)型气体传感器因其功耗低、灵敏度高而吸引了大量研究人员的关注。然而,对其传感能力和内在机理的理论探索仍然十分匮乏。本文以单层纯 WTe2 和缺陷 WTe2 为传感平台,利用第一性原理计算和统计热力学模型,系统地研究了 FET 型气体传感器对 SO2、CO、NO、NH3 和 NO2 等多种有害气体的传感特性和工作原理。研究结果表明,基于纯 WTe2 的 FET 型气体传感器在零栅压下工作时,对 NO2 的检测具有极高的灵敏度和重复使用性,在 20 ppb 低浓度下的灵敏度达到 96%。引入 Te 空位是一种高效的策略,可以提高气体传感器对所有测试有毒气体的灵敏度,同时确保其可重复使用性。在基于纯 WTe2 的 FET 型气体传感器上施加栅压可进一步提高其对 NO2 的灵敏度,在整个偏压范围内超过 90%,在 3 V 栅压下达到 97%。本研究为实现 ppb 级浓度有毒气体的超灵敏和可回收检测提供了一种前景广阔的方法。 Journal of Materials Chemistry A, 2024, 12(39): 26951-26961. DOI :10.1039/D4TA02739F 金修饰的黑磷:氮氧化物去除剂和氢传感器 有效检测有毒气体和清洁能源氢气是工业生产和日常生活的迫切需要。本文通过密度泛函理论结合非平衡格林函数方法,从理论上研究吸附/掺杂金的黑磷单层对六种不同气体(CO、H2、H2S、NO、NO2 和 SO2)的传感特性。计算得出的吸附能、电荷转移、电子局域函数、能带结构和态密度表明,吸附/掺杂金的黑磷对氮氧化物气体表现出敏感的化学吸附。而令人惊讶的是,掺杂金的黑磷对 H2 分子表现出敏感的物理吸附。计算得出的恢复时间和电流电压曲线表明,吸附/掺杂金的黑磷器件是一种超灵敏(灵敏度为 71%-100% )的氮氧化物分子去除器。更重要的是,掺杂金的黑磷传感器可在室温下实现对 H2 的高灵敏度(灵敏度为 85%)、选择性和可重复使用性(恢复时间为 0.01 ns)检测。本研究结果为吸附/掺杂金的黑磷在气体传感领域的潜在应用提供了理论依据,尤其是在理想的氮氧化物去除剂和 H2 传感器方面。 Applied Surface Science, 2024, 651: Article 159194. DOI:10.1016/j.apsusc.2023.159194. 利用新型二维五边形 Pd2P2SeX(X= O、S、Te)pin 结纳米器件设计高性能场效应、应变/气体传感器:传输特性研究 在现代纳米器件领域,获得高开关性能并在高精度环境中实现传感检测功能至关重要。二维(2D)Pd2P2SeX(X = O、S、Te)具有优异的几何、物理和化学特性,可以结晶成具有间接带隙的正交结构。基于这些基本特性,通过第一性原理对二维 Pd2P2SeX pin 结器件进行建模以模拟场效应晶体管、高开关比应变传感器和基于化学吸附的气体传感器。Pd2P2SeX pin […]

基于缺陷工程与应变调控的金刚石理想中间带光电材料设计

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研究背景 随着全球能源需求的持续增长与环境问题的日益严峻,开发高效率光电转换材料成为新能源领域的重要研究方向。传统单结半导体光伏器件受 Shockley–Queisser 极限的限制,其光电转换效率难以进一步提升。为突破这一理论瓶颈,中间带(Intermediate-Band, IB)光电材料被提出,通过在禁带中引入中间能级,使材料能够吸收低能光子,从而显著提高光谱利用率和器件效率。然而,实现理想中间带结构仍面临巨大挑战,尤其是在保证中间带与价带、导带有效分离及适当占据的条件下。 金刚石作为一种典型的宽禁带半导体,具有优异的热导率、化学稳定性和载流子迁移率,是构建高性能光电器件的潜在候选材料。然而,其超宽带隙限制了对可见光的吸收能力。近年来,缺陷工程被广泛用于在半导体中引入中间能级,但单一缺陷调控往往难以实现理想的中间带结构。同时,应变调控(应力工程)作为一种有效的能带调节手段,可进一步调控电子结构与能级分布。 因此,将缺陷工程与应变调控相结合,系统研究其对金刚石中间带形成及光电性能的影响,对于实现高效中间带光电材料具有重要意义,并为新型高效率光伏器件的设计提供理论依据。 研究内容 该研究围绕在金刚石中构建理想中间带光电材料这一目标,系统探讨了缺陷工程与应变调控协同作用对其电子结构的影响。首先,基于第一性原理计算,构建多种含缺陷的金刚石模型,分析其对能带结构和态密度的调控作用,重点考察缺陷在禁带中引入中间能级的能力及其位置分布。 图 1.(a)3 × 3 × 3 超胞中 B-As 共掺杂金刚石的构型(b)3 × 3 × 3 超胞中 B-As 共掺杂金刚石的能带结构(c)2 × 2 × 2 超胞中 B-As 共掺杂金刚石的构型(d)2 × 2 × 2 超胞中 B-As 共掺杂金刚石的能带结构(粉色球代表 B 原子,紫色球代表 As 原子) 在此基础上,进一步引入应变调控,研究外场对中间能级位置、带宽及占据情况的影响。通过系统比较不同缺陷类型与应变条件下的电子结构特征,评估是否满足理想中间带材料的关键要求,即中间带应位于禁带中间、与价带和导带保持有效分离,并具备合适的电子占据状态。 图 2.(a)未受压 C61B2As 的结构示意图和态密度图(b-d)分别为沿 X、Y 和 Z 方向施加 80GPa 单轴应力时 C61B2As 的结构示意图和电子态密度图(箭头表示压缩方向) 进一步,通过计算不同单轴压应力下 C61B2As 的态密度、带隙以及光吸收系数,研究单轴应力对 C61B2As 电子、光学性质的影响。 图 3.(a)沿 Z […]

基于 WGe2N4 单层的高性能纳米电子器件研究

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研究背景 随着信息技术和微电子产业的迅速发展,传统硅基器件在尺寸不断缩小的过程中逐渐面临短沟道效应增强、功耗增加以及散热困难等问题,因此开发具有优异电子输运性能的新型低维材料成为纳米电子学领域的重要研究方向。二维材料由于具有原子级厚度、较高的载流子迁移率以及良好的界面特性,被认为是构建下一代高性能纳米器件的理想候选材料。自石墨烯发现以来,过渡金属硫族化物(TMDs)、黑磷以及多种二维化合物相继被广泛研究,但部分材料仍存在带隙调控困难、稳定性不足或器件性能受限等问题,因此寻找性能更加优异的新型二维材料仍具有重要意义。 近年来提出的 MA2Z4 型二维材料体系为新型纳米电子器件研究提供了新的思路。这类材料通常由过渡金属层与氮化物层构成,具有稳定的层状结构和可调的电子性质。其中,WGe2N4 单层材料由于其独特的晶体结构和良好的电子特性而受到关注。 研究内容 该研究基于第一性原理计算与非平衡格林函数(NEGF)方法,系统研究了 WGe2N4 单层材料的结构稳定性、电子性质以及其在纳米电子器件中的应用性能,重点探索在 pn 结二极管、场效应晶体管(FET)和光电子器件中的潜在应用。 首先,对 WGe2N4 单层材料的晶体结构、力学稳定性及声子性质进行计算分析。结果表明该材料具有良好的热力学和动力学稳定性,同时表现出较高的机械刚性和各向异性的弹性性质,为构建稳定的二维纳米器件提供了基础。 图1. WGe2N4 单层的几何和电子结构:(a)俯视图和侧视图(b)声子谱和元素投影声子态密度(c)在 AIMD 模拟过程中总能量随时间的变化;元素投影能带和投影态密度基于(d)PBE 和(e)HSE06 进一步探究费米能级附近的电子态,对 Γ 点附近导带和价带的能量分布进行分析。发现电子在二维平面具有较好的传播特性,说明材料具有良好的载流子输运潜力。 图2.(a)导带底部和价带顶部在 Γ 点附近的三维视图;(b)和(c)为第一布里渊区的二维投影。颜色刻度表示的数据范围从低(红色)到高(紫色)。 随后,研究构建 WGe2N4 pn 结纳米二极管模型,通过电子输运计算分析其电流-电压特性。结果显示该器件具有明显的整流行为和较高的整流比,表明 WGe2N4 在纳米尺度二极管器件中具有良好的应用潜力。 图3. 基于 WGe2N4 单层的 PN 结二极管(a)原理图(b)偏置相关电流(c)整流比 Rr 曲线(d)差分电导 dI /dV(e)温度依赖性的理想因子 n 曲线,虚线表示理想情况(n = 1) 在此基础上,进一步设计 WGe2N4 基 pin 结场效应晶体管(FET)。计算结果表明,该器件具有优异的开关比、良好的栅极调控能力以及稳定的电子输运特性,能够有效抑制短沟道效应,展现出较好的逻辑器件应用前景。 图4. WGe2N4 单层 pin 结场效应晶体管的(a)原理图,电子传输特性:在(b)0 V 和(c)-0.4 V 的栅极电压下,与偏置相关的电流和整流比曲线(d)在栅极电压范围从 -0.4 V 到 0.4 V 的情况下,当偏置电压为 0.6 V 时的电流特性。 最后,研究还分析了 WGe2N4 单层的光学吸收和光电响应特性。结果表明该材料在可见光区域具有较强吸收能力,并表现出良好的光电导效应,说明其在光电探测器和光电子器件方面也具有潜在应用价值。 图5. WGe2N4 薄层的光电特性(a)光吸收系数(b)光电导率,基于 WGe₂N₄ 单层的 pin 结光电晶体管的(c)示意图(d)在无外加偏压(即无电源供应)的情况下的光电流密度。实线和虚线分别代表由 PBE 和 HSE06 方法获得的结果。插入的光谱图案表示可见光区域。 总结 本文基于第一性原理计算和非平衡格林函数(NEGF)方法,系统研究了 WGe2N4 单层材料的结构稳定性、电子性质及其在纳米器件中的应用潜力。计算结果表明,WGe2N4 单层具有良好的热力学与动力学稳定性,并表现出适中的半导体带隙和良好的电子输运特性。在此基础上,构建了基于 WGe2N4 的 pn 结纳米二极管、pin 结场效应晶体管、pin 结光电场效应晶体管模型,并对器件的性能进行了细致的研究。结果表明,WGe2N4 单层材料在高性能纳米电子器件领域具有重要应用潜力,为二维材料在未来低功耗电子器件中的应用提供了理论参考。 参考文献 Li […]

QuantumATK 磁性与自旋电子学合集(七)

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基于 SGS 和 HMM 材料的VSe2/hBN/MnSe2 可重构磁隧道结在偏置电压下的性能分析 磁性隧道结(MTJs)是自旋电子器件的关键部件,其性能受到电极和势垒材料选择的强烈影响。本文利用第一性原理和量子输运模拟研究了基于 VSe2/hBN/MnSe2 异质结的可重构 MTJ。VSe2 作为自旋无带隙半导体,MnSe2 作为半金属铁磁材料,hBN 作为二维隧道势垒。该器件在 -0.5 至 0.5 V 范围内具有类似二极管的反隧道磁阻(TMR)效应。在 -0.5 V时 TMR 最大值为 2060.01%,而在 +0.5 V 时 TMR 最大值为 -79.11%。零偏置空位分析表明,Mn 位缺陷将 TMR 抑制至 -100.00%,而 V 空位缺陷对 TMR 的影响较小为 -37.81%。将自旋无带隙半导体和半金属铁磁电极与范德华势垒相结合,增强了自旋滤波、可调性和多功能输运,使该设计有望用于节能自旋电子存储器和逻辑应用。(Physica B-condensed Matter, 2025, 717: 417806. DOI:10.1016/j.physb.2025.417806) 磁性隧道结中由共振隧穿驱动的自旋扭矩增强:基于 DFT-NEGF 的模拟研究 通过在磁性隧道结(MTJ)中利用量子阱(qw-MTJ)的共振隧穿效应并采用非磁性金属间隔层(钨),探索磁性隧道结效率的潜在提升。利用非平衡格林函数形式结合密度泛函理论,计算并分析具有不同间隔层宽度的三种不同结构的导电性,并将其与不含量子阱的对照结构(0-W)进行比较。通过采用这种新颖的结构实现隧道磁阻的显著增强,从 0-W MTJ 的 1420% 提升至三钨层(3-W)qw-MTJ 的 9900%,同时电阻面积乘积降低了 60%,表明电流密度有了显著提升。此外,对自旋转移矩(STT)的计算表明,其数值相较于对照器件有了显著增加,随着钨层宽度的增加,STT 值也相应上升,从传统 MTJ 的 6μeV/V 增加到 3-W qw-MTJ 的 470μeV/V。此外,用于切换的临界电压从 0 层 t-MTJ 的 137 mV 显著降低至 3 层量子阱 MTJ 的 2.02 mV(降低了 70%),而临界电流则基本保持不变。这也导致临界切换功率大幅降低,从 38.36 pW 降至 0.66 pW(降低了 60%)。(Journal of Applied Physics, 2025, 138(12). […]

QuantumATK Y-2026.03 新版发布

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机器学习 DFT QuantumATK 本次发布的新版本引入了机器学习密度泛函理论(ML-DFT)。ML-DFT 模型经过训练可重现 DFT(GGA)级别的密度或有效势函数,能显著加速电子结构特性及输运过程的模拟流程。ML 训练得到的密度/有效势函数可用于: 作为标准 DFT 计算中自洽场循环的初始状态,大幅减少自洽场迭代次数; 直接预测 Hartree 差别势、总能量、能带结构、态密度、哈密顿量导数、透射等特性(无需完整自洽场循环)。通过替代传统 DFT 中最耗时的步骤(完整自洽场循环),ML-DFT 实现了 DFT 级计算速度的大幅提升,从而支持包含多达 1000-10000 个原子的大规模模拟,并助力以往传统 DFT 难以实现的高通量统计平均研究。 用户可以使用软件预先训练好的模型或自己针对特定体系训练模型。训练和使用模型都可以在图形界面中完成。 当前版本中包含的预先训练的模型:Materials Project 数据库中的密度、SiGe 密度、III-V 化合物密度、铜有效势、HKMG 多层堆叠分区密度等。 图:经过预训练的 ML-DFT “铜有效势”模型能直接预测铜板的电阻,其预测结果与全 SCF 传统 DFT 方法高度吻合,但计算速度提升 8.6 倍。该模型可基于数百种构型计算电子输运特性,同时模拟表面无序和温度效应——对于 960 种构型的采样,可节省 3 个月的计算时间。 GPU 加速原子轨道基组 DFT 杂化泛函计算、平面波 DFT 计算和 G0W0 计算 在之前的 X-2025.06 版本中,QuantumATK 实现了 DFT- LCAO(LDA、GGA、metaGGA)以及半经验(SE)体相计算(包括能带结构、投影能带结构、投影态密度、布洛赫态)和器件(NEGF)计算的 GPU 加速功能。本次发布的 QuantumATK 版本新增了 DFT- LCAO 混合泛函、DFT 平面波方法、多体物理 G0W0 方法以及电子-声子耦合(EPC)计算的 GPU 加速支持。 DFT-LCAO 杂化泛函 6x 加速 DFT-PlaneWave 计算 10x 加速 G0W0 计算 12x 加速 电声耦合(EPC)计算 6x 加速 平衡态(偏压为0时)的普通 DFT 和半经验加速比上一个版本也有提升 注:以上结果基于特定的体系和硬件测试,详情参见厂商新版发布说明文档。 半经验量子力学方法和器件 NEGF 方法改进 新版本为半经验分析计算(如投影态密度(DOS)与电子-声子耦合)以及基于半经验模型和密度泛函理论(DFT)的器件 NEGF 计算,带来了多项性能优化(包括加速和内存占用降低)。 采用不同半经验(SE)模型进行计算时的加速效果投影态密度(PDOS)最高可达 4 倍;电子-声子耦合最高可达 35 倍; 采用不同 SE 模型时,体力与应力计算最高可达 25 倍加速(通常仅占总模拟时间的很小部分)。 器件 NEGF 加速使用多种 SE 模型进行 NEGF 计算时的加速效果。器件自洽场最高可加速 3 倍器件 DOS(正交模型,如最近邻模型)最高可加速 20 倍透射计算最高可加速 1.5 至 3 倍。加速效果取决于器件的几何结构,宽器件越大,细长器件越小。 DFT- LCAO 进行 NEGF 计算时的加速效果能量与力计算最高可加速 12 倍器件自洽场计算最高可加速 4 倍 + 收敛性更优 光电流计算最高可加速 7 倍 注:以上结果基于特定的体系和硬件测试,详情参见厂商新版发布说明文档。 新一代模块化机器学习力场训练框架 在之前的版本中,矩张量势(MTPs)与神经网络 MACE 机器学习力场(ML FFs)采用了不同的训练框架。本次版本通过引入通用模块化机器学习力场训练框架,显著提升了操作的便捷性。该框架包含数据生成、模型拟合与验证等独立模块,可适用于 MTPs、MACE 等多种机器学习力场模型的训练。新版特别新增专用工作流构建模块与机器学习力场分析工具,用户可通过 NanoLab 图形界面直观展示不同 ML FF 架构(MTP 与 MACE)的误差统计图,并通过单一图表对比多个模型拟合结果,快速获取整体模型性能评估。 机器学习力场 GPU 加速比显著提高 在之前的 X-2025.06 版本中,QuantumATK 为采用 MTPs 的离子动力学模拟引入了单 GPU 与多 GPU 加速技术,并为使用 MACE 和 MatterSim 神经网络势能的分子动力学模拟提供了多 GPU 加速方案。本次版本针对 MACE 和 SevenNet 神经网络势能实现了 GPU 性能的显著提升(3-5 倍),相较于 CPU 整体加速比最高可达 250 倍。 热学材料的精确模拟:MD 的双温模型 在典型的分子动力学(MD)模拟中,离子被视为与电子解耦(整个系统采用单一热库)。该方法提出了一种双温法(TTM),适用于包含电子-声子相互作用和电子阻滞效应的 MD 模拟。TTM 能够模拟含电子贡献的热输运(对含金属体系尤为重要),或非平衡电子加热(例如通过光-物质相互作用)。 图:双温度模型(TTM)计算得到的 Cu(001)/Ta(001) 界面热导率与文献值高度吻合。相较之下,传统分子动力学模拟(不考虑电子-声子耦合且未采用 […]

交错磁平带驱动的费米面几何调控实现巨隧穿磁阻效应

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研究背景 随着信息技术的发展,数据存储器件正朝着更高速度、更低功耗以及更高稳定性的方向演进。磁阻随机存储器(MRAM)由于能够同时满足这些需求,被认为是最有潜力的下一代非易失存储技术之一。MRAM的核心器件是磁隧穿结(magnetic tunnel junction, MTJ),其基本结构由两层磁性电极和中间的绝缘势垒层组成。当两侧电极的磁矩由平行变为反平行排列时,电子的隧穿概率会发生变化,从而导致器件电阻出现明显差异。这种由磁构型改变引起的电阻变化被称为隧穿磁阻(tunneling magnetoresistance, TMR),是评价 MTJ 性能的重要指标。 传统 MTJ 器件通常采用铁磁材料作为电极。然而,铁磁体具有宏观净磁矩,会产生杂散磁场,这在器件小型化和高密度集成过程中可能带来干扰,影响器件稳定性。另一方面,反铁磁材料虽然没有杂散磁场,但其电子结构通常缺乏明显的自旋极化特征,使得自旋输运能力较弱。近年来提出的交错磁(altermagnetism)为这一问题提供了新的解决思路。交错磁材料在磁结构上类似反铁磁体,没有宏观净磁矩,但其能带结构却呈现出类似铁磁体的自旋分裂特征,从而兼具两者的优势,为新型自旋电子器件的设计提供了新的可能。 研究内容 在磁隧穿结中,电子通过势垒层进行量子隧穿时需要同时满足自旋守恒和动量守恒,因此电极材料在费米能级处的自旋分辨费米面几何直接决定了平行(P)与反平行(AP)构型下的导电通道。如图  1所示,当两侧电极的导电通道在动量空间发生重叠时,AP 态仍存在可用的自旋简并通道,从而产生“漏电流”,并限制隧穿磁阻(TMR)的提升。理想情况下,若两种自旋的费米面能够完全分离,则反平行态的输运将被极大抑制,从而获得更高的磁阻效应。 基于这一物理机制,北京大学物理学院吕劲团队与新加坡科技设计大学 Yee Sin Ang 研究组合作,系统研究了交错磁材料中费米面结构对交错磁隧穿结(AMTJ)输运性质的影响。研究选取了三种已经在实验中成功合成的交错磁材料:V2Te2O、RbV2Te2O 和 KV2Se2O,并通过密度泛函理论结合第一性原理量子输运计算,对其器件输运性质进行了系统模拟。 研究发现,准层状材料 RbV2Te2O 和 KV2Se2O 在费米能级附近存在交错磁平带结构,这种平带会产生高度各向异性的准二维费米面。如图 2 所示,随着材料原子构成的变化,不同自旋导电通道在动量空间中的重叠区域逐渐减少。在 V2Te2O 中 为 Γ 点附近的延伸区域,在 RbV2Te2O 中缩小为弧形区域,而在 KV2Se2O 中则仅剩少数离散节点。后两者材料的这种费米面几何结构能够显著减少自旋通道的重叠,因此可以有效抑制反平行态下的隧穿电流,从而大幅提升器件的磁阻效应。 图 1:不同电极费米面形状对交错磁隧穿结输运性质的影响 图 2:(a)交错磁隧穿结(AMTJ)在平行(P)与反平行(AP)构型下的磁矩排列示意图;(b-d)分别为基于 V2Te2O、RbV2Te2O 和 KV2Se2O 电极构建的 AMTJ 器件在费米能级处的自旋极化 k 分辨透射系数分布 在三种候选材料中,KV2Se2O 表现出最理想的费米面自旋分离特征。费米能级附近的不同自旋输运通道几乎互不重叠,为实现高磁阻提供了关键条件。基于这一性质,研究团队以 KV2Se2O 为电极构建 AMTJ 器件,并系统评估其输运性能。模拟结果显示,即使在简单的真空势垒结构下,器件的 TMR 已达到约 4.3 × 103 %。当进一步引入与电极晶格和对称性匹配的绝缘势垒后,TMR 可提升至 1.1 × 106 %,显著超越了传统铁磁 MTJ 以及其他代表性器件的性能(图3)。 图 3:(a)基于 KV2Se2O 电极的 AMTJ 器件性能与其他代表性 MTJ 的对比(b)上述不同器件对应的结构设计与研究方法(c)典型 MTJ 器件结构示意图 总结 本工作从费米面几何结构出发,系统阐明了交错磁平带在抑制动量空间自旋通道交叠、提升隧穿磁阻方面的核心作用。其中,以 KV2Se2O 为电极的交错磁隧穿结在对称匹配的绝缘势垒辅助下,可以实现高达 1.1 × 106 %的理论 TMR,显著突破现有 MTJ 体系的性能上限。本研究不仅确立了交错磁平带驱动的费米面工程设计范式,也为新一代高密度、低功耗自旋存储与自旋逻辑器件的发展提供了重要的材料与结构指导。 参考文献 X. Yang, S. Fang, Z. Yang, P. Ho, J. Lu, and Y. S. Ang, Altermagnetic Flatband-Driven Fermi Surface Geometry for Giant Tunneling Magnetoresistance, Adv. Funct. Mater., e31921 (2026). http://doi.org/10.1002/adfm.202531921

QuantumATK 低维电子材料与器件合集(六)

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基于单层 PtSe2 的低功耗高性能 MOSFETs 的量子输运模拟 探索更多摩尔电子器件的新型沟道材料是一件有趣的事情。由于其各向异性电子特性、优异的稳定性和高载流子迁移率,单层(ML)PtSe2 是一种很有前途的沟道候选材料。通过 underlap 工程,利用量子输运模拟评估 sub-5nm ML PtSe2 MOSFETs 的性能极限。研究结果表明,优化后的 5 nm 栅极长度的 n 型和 p 型 ML PtSe2 MOSFETs 在低功耗(LP)和高性能(HP)应用方面都超过了国际器件和系统路线图(IRDS),并且与先前报道的ML MoS2 和 MoTe2 MOSFETs 相比表现出卓越的性能。值得注意的是,在漏极附近引入 p-n 结进一步提高了 3 纳米栅极 ML PtSe2 MOSFETs 的性能,超过了 IRDS HP 基准。重要的是,在适用于 LP 应用的 5 纳米栅极 ML PtSe2 MOSFETs 和适用于 HP 应用的 3 纳米栅极 ML PtSe2 MOSFETs 中观察到几乎对称的器件特性,这有利于同质逻辑电路的设计。(Surfaces and Interfaces, 2025: 107550. DOI:10.1016/j.surfin.2025.107550) Janus […]

 
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