参考文献：
Z. Sun, M. P. Boneschanscher1, I. Swart, D. Vanmaekelbergh, and P. Liljeroth,Quantitative Atomic Force Microscopy with Carbon Monoxide Terminated Tips. Physical Review Letters 106, 046104 (2011).
原子力显微镜（AFM）通过针尖吸附一个一氧化碳分子提高对机分子成像分辨率，本文详细研究了这种成像机制，以及分子弛豫在力谱实验中的角色。
该实验涉及两个CO分子间力的测量手段：一个CO分子吸附在Cu(111)单晶基底上，另一个在AFM针尖顶部。实验结果与ADF计算结果进行了比较。使用TZ2P基组，色散修正泛函PBE-D考虑范德华力，范德华力决定CO－CO分子之间的距离。
CO针尖：色散修正泛函DFT计算结果与实验结果比较
本文在两个层次上进行了计算：1）半定量层次，简单计算两个孤立CO分子之间的相互作用，来重现实验结果，但针尖－样品距离很短的时候，排斥作用被强烈过大估计；2）使用Cu4和Cu10团簇分别代表针尖模型及基底，包括了CO分子吸附结构的弛豫。
针尖－基底距离较小的时候，Pauli排斥力很强，会导致吸附的CO分子方向改变，来降低排斥力。这使得计算得到的相互作用能和实验更接近。
近距离中原子级别的重构限制了成像和力谱分辨率。这种效应在所有的用到分子针尖的非接触AFM实验中很普遍。
关键词：dispersion-corrected DFT (DFT-D)