用户工具

站点工具


atk:2018_年使用_quantumatk_发表的文章

差别

这里会显示出您选择的修订版和当前版本之间的差别。

到此差别页面的链接

两侧同时换到之前的修订记录前一修订版
atk:2018_年使用_quantumatk_发表的文章 [2019/05/03 15:21] dong.dongatk:2018_年使用_quantumatk_发表的文章 [2019/05/03 15:21] (当前版本) dong.dong
行 4: 行 4:
   * 请访问Google Scholar 页面:   * 请访问Google Scholar 页面:
     * **[[https://scholar.google.com/scholar?q=%22QuantumATK%22+OR+%22Atomistix+ToolKit%22+OR+%22Virtual+NanoLab%22+OR+%22QuantumWise%22+OR+%22Atomistix%22+OR+%22Transiesta-c%22+&hl=zh-CN&as_sdt=1%2C5&as_vis=1&as_ylo=2018&as_yhi=2018|QuantumATK 2018年文章列表(约500条)]]**     * **[[https://scholar.google.com/scholar?q=%22QuantumATK%22+OR+%22Atomistix+ToolKit%22+OR+%22Virtual+NanoLab%22+OR+%22QuantumWise%22+OR+%22Atomistix%22+OR+%22Transiesta-c%22+&hl=zh-CN&as_sdt=1%2C5&as_vis=1&as_ylo=2018&as_yhi=2018|QuantumATK 2018年文章列表(约500条)]]**
-    * **以下列表为搜索自动生成,可能有少量不准确。**+  * **以下列表为搜索自动生成,可能有少量不准确。**
  
   * 1. Liang, J. et al. Atomistic to circuit level modeling of defective doped SWCNTs with contacts for on-chip interconnect application. 2017 IEEE 12th Nanotechnol. Mater. Devices Conf. NMDC 2017 2018-Janua, 66–67 (2018).   * 1. Liang, J. et al. Atomistic to circuit level modeling of defective doped SWCNTs with contacts for on-chip interconnect application. 2017 IEEE 12th Nanotechnol. Mater. Devices Conf. NMDC 2017 2018-Janua, 66–67 (2018).
atk/2018_年使用_quantumatk_发表的文章.1556868088.txt.gz · 最后更改: 2019/05/03 15:21 由 dong.dong

© 2014-2022 费米科技(京ICP备14023855号