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atk:生成能 [2016/08/08 20:13] – [结果] liu.jun | atk:生成能 [2018/03/20 22:21] (当前版本) – liu.jun | ||
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行 1: | 行 1: | ||
======生成能====== | ======生成能====== | ||
- | 本例中,学习如何通过计算总能量,得到不同体系之间的结合能、缺陷生成能。主要包括三个例子: | + | 你将在本例中学习如何通过计算总能量,得到不同体系之间的结合能、缺陷生成能。主要包括三个例子: |
- | - 体相GaAs | + | - 体相 GaAs |
- | - GaAs中的Ga空位 | + | - GaAs 中的 Ga 空位 |
- | - MgO表面的O空位 | + | - MgO 表面的 O 空位 |
=====生成能(或者结合能)计算===== | =====生成能(或者结合能)计算===== | ||
- | 在ATK里面可以很方便的通过计算总能量得到体系的生成能(或结合能),具体的计算公式: | + | 在 QuantumATK |
- | (1) $E_{form}=E_{tot}–Σ_xE_{tot}(x)$ | + | (1) $E_\mathtt{form}=E_\mathtt{tot}–Σ_xE_\mathtt{tot}(x)$ |
- | $E_{form}$表示将材料分解为各组分x所需的能量。选择各自组分的参考体系的时候,尤其要注意:参考体系是气相还是块体材料。 | + | $E_\mathtt{form}$ 表示将材料分解为各组分 |
- | <WRAP center | + | <WRAP center |
- | 注意: | + | **注意**: |
- | * $E_{form}$通过计算电子结构得到,没有考虑振动引起的热能和零点能; | + | * $E_{form}$ 通过计算电子结构得到,没有考虑振动引起的热能和零点能; |
- | * 注意mesh cut off和k-point需要收敛,也就是增大cut off和k-point能量几乎不再变化; | + | * 注意 mesh cut off 和 k-point 需要收敛,也就是当增大 cut off 和 k-point 能量几乎不再变化; |
* 记住要通过组成体系的原子数目,将总能量归一化; | * 记住要通过组成体系的原子数目,将总能量归一化; | ||
- | * 注意自旋极化的情况。尤其是当你的体系是具有特殊自旋态的分子,比如O< | + | * 注意自旋极化的情况。尤其是当你的体系是具有特殊自旋态的分子,比如$O_2$ |
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- | 为了计算体系的总能量,从{{: | + | 为了计算体系的总能量,从{{: |
{{ : | {{ : | ||
- | <WRAP center | + | <WRAP center |
- | 注意: | + | **注意**: |
- | 关于ATK-DFT和ATK-Huckel计算{{: | + | 关于 ATK-DFT 和 ATK-Huckel 计算 {{: |
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- | 你可以在log文件中,读取体系的总能量信息,也可以使用Text Representation分析LabFloor栏目的TotalEnergy,如下图所示: | + | 你可以在 log 文件中,读取体系的总能量信息,也可以使用 Text Representation 分析 |
{{ : | {{ : | ||
+ | |||
=====体相材料的结合能===== | =====体相材料的结合能===== | ||
- | 此处以简单的体相材料GaAs为例说明。对于体相材料可以使用体香座位参考体系来计算各个组分:Ga和As。 | + | 此处以简单的体相材料 GaAs 为例说明。对于体相材料可以使用体相作为参考体系来计算各个组分:Ga 和 As。 |
- | 本例中计算体相材料GaAs相对于Ga和As块体的生成能: | + | 本例中计算体相材料 GaAs 相对于 Ga 和 As 块体的生成能: |
- | $E_{form}^{GaAs}=E_{tot}^{GaAs}-E_{tot}^{Ga}/ | + | $E_\mathtt{form}^\mathtt{GaAs}=E_\mathtt{tot}^\mathtt{GaAs}-E_\mathtt{tot}^\mathtt{Ga}/n_\mathtt{Ga}-E_\mathtt{tot}^\mathtt{As}/n_\mathtt{As}$ |
- | 其中$n_{Ga}$和$n_{As}$分别表示Ga晶体和As警惕原包中的原子个数。这就是前面说的归一化。 | + | 其中 $n_\mathtt{Ga}$ 和 $n_\mathtt{As}$ 分别表示 Ga 晶体和 As 晶体元胞中的原子个数。这就是前面说的归一化。 |
====结果==== | ====结果==== | ||
- | 使用LDA、FHI DoubleZetaPolarized基组,得到$E_{form}^{GaAs}$=-0.6645 eV(实验值-0.73 eV((El-Mellouhi F. and Mousseau N. “Self-vacancies in gallium arsenide: An ab initio calculation” Physical Review B 7, 125207, 2005)))。符号表示从Ga晶体和As晶体形成GaAs晶体得到0.6645eV能量。 | + | 使用 LDA、FHI DoubleZetaPolarized 基组,得到 $E_\mathtt{form}^\mathtt{GaAs}=-0.6645 eV$(实验值 -0.73 eV((El-Mellouhi F. and Mousseau N. “Self-vacancies in gallium arsenide: An ab initio calculation” Physical Review B 7, 125207, 2005)))。负号表示从 Ga 晶体和 As 晶体形成 GaAs 晶体得到 0.6645 eV 能量。 |
- | <WRAP center | + | <WRAP center |
- | 注意1: | + | **注意1**: |
- | * 选择不同基组和赝势,对生成能懂计算非常关键,并且你的体系包括哪些元素,对结果的可靠性也有很大影响; | + | * 选择不同基组和赝势,对生成能的计算非常关键,并且你的体系包括哪些元素,对结果的可靠性也有很大影响; |
- | * 本例中,Ga元素以及它对应的组分晶体(Ga晶体)对赝势和机组的设置更敏感; | + | * 本例中,Ga 元素以及它对应的组分晶体(Ga 晶体)对赝势和基组的设置更敏感; |
- | * ATK中还有HGH和OMX赝势; | + | * QuantumATK |
- | * 使用HGH赝势(Tier 4 basis set)计算GaAs生成能,得到$E_{form}^{GaAs}$=-0.76 eV,和实验值符合的非常好。 | + | * 使用 HGH 赝势(Tier 4 基组)计算 GaAs 生成能,得到 $E_\mathtt{form}^\mathtt{GaAs}=-0.76 eV$,和实验值符合的非常好。 |
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- | <WRAP center | + | <WRAP center |
- | 注意2: | + | **注意2**: |
- | * 可以将这种方法用于其它体系,例如分子晶体。但这种情况下,方程(1)中Σ_xE_{tot}(x)$各项对应的是形成晶体的各孤立分子的总能量。 | + | * 可以将这种方法用于其它体系,例如分子晶体。但这种情况下,方程(1) 中 $Σ_x E_\mathtt{tot}(x)$ 各项对应的是形成晶体的各孤立分子的总能量。 |
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- | <WRAP center | + | <WRAP center |
- | 注意3: | + | **注意3**: |
- | * 有可能需要对不同体系中各组分的基组重叠带来的误差进行补偿,也就是所谓的BSSE。详见手册:[[https:// | + | * 有可能需要对不同体系中各组分的基组重叠带来的误差进行补偿,也就是所谓的 BSSE。详见手册:[[https:// |
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- | <WRAP center | + | <WRAP center |
- | 注意4: | + | **注意4**: |
- | * 也可以通过这种方式计算分子的结合能:分别计算分子的总能量和各个孤立原子的总能量。不过要尤其小心自旋极化的计算。也要小心DFT理论在计算孤立的原子的不足限制,例如计算O原子构成$O_2$的生成能((Wang L. et al. “Oxidation energies of transition metal oxides within the GGA+ U framework” Physical Review B 73, 195107, 2006))。 | + | * 也可以通过这种方式计算分子的结合能:分别计算分子的总能量和各个孤立原子的总能量。不过要尤其小心自旋极化的计算。也要小心 DFT 在计算孤立的原子的不足限制,例如计算 O 原子构成 $O_2$ 的生成能((Wang L. et al. “Oxidation energies of transition metal oxides within the GGA+ U framework” Physical Review B 73, 195107, 2006))。 |
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=====缺陷生成能计算===== | =====缺陷生成能计算===== | ||
使用完全一样的方法,可以计算缺陷的形成能。 | 使用完全一样的方法,可以计算缺陷的形成能。 | ||
- | ====GaAs中的Ga空位==== | + | ==== GaAs 中的 Ga 空位==== |
- | 考虑GaAs晶体的一个Ga空位。缺陷的形成能可以通过下式得到: | + | 考虑 GaAs 晶体的一个 Ga 空位。缺陷的形成能可以通过下式得到: |
- | (2)$E_{form}=E_{tot}^{Ga_{1-x}As}–E_{tot}^{GaAs}+x⋅E_{tot}^{Ga}$ | + | (2) $E_\mathtt{form}=E_\mathtt{tot}^{\mathtt{Ga}_{1-x}\mathtt{As}}–E_\mathtt{tot}^\mathtt{GaAs}+x⋅E_\mathtt{tot}^\mathtt{Ga}$ |
- | 其中$E_{tot}^{Ga_{1-x}As}$表示包涵x哥Ga空位的的GaAs晶体的总能量,$E_{tot}^{GaAs}$表示完美GaAs晶体的总能量,$E_{tot}^{Ga}$表示Ga晶体的总能量。 | + | 其中 $E_\mathtt{tot}^{\mathtt{Ga}_{1-x}\mathtt{As}}$ 表示包含 $x$ 个 Ga 空位的 GaAs 晶体的总能量,$E_\mathtt{tot}^\mathtt{GaAs}$ 表示完美 GaAs 晶体的总能量,$E_\mathtt{tot}^\mathtt{Ga}$ 表示 Ga 晶体的总能量。 |
- | <WRAP center | + | <WRAP center |
- | 注意: | + | **注意:** |
- | 除了检查常规的参数以确保得到收敛的结果之外,嗨需要注意晶格的大小,这与缺陷浓度直接相关。 | + | |
+ | 除了检查常规的参数以确保得到收敛的结果之外,还需要注意晶格的大小,这与缺陷浓度直接相关。 | ||
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====结果==== | ====结果==== | ||
- | 使用LDA、FHI DoubleZetaPolarized基组,ATK-DFT得到的包含216原子的GaAs单胞中,一个Ga空位的生成能是3.15 eV(实验值< | + | 使用 LDA、FHI DoubleZetaPolarized 基组,ATK-DFT 得到的包含 216 原子的 GaAs 单胞中,一个 Ga 空位的生成能是 3.15 eV(实验值< |
- | ====MgO(100)的表面O空位==== | + | ==== MgO(100) 的表面 O 空位 ==== |
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+ | 最后我们来看 MgO(100)表面的O空位。本例中,使用气相的 O< | ||
+ | |||
+ | ^ Formation energy (eV) ^|| | ||
+ | | | 1/2 O< | ||
+ | | ATK-PBE | ||
+ | | ATK-PBE - ghost atom | 6.61 | 10.16 | | ||
+ | | VASP PW91((Giordano L. et al. “F and F+ Centers on MgO/Ag(100) or MgO/Mo(100) Ultrathin Films: Are They Stable?” J. Phys. Chem. C 112, 3857, 2008)) | ||
+ | |||
+ | 根据选用的基组的不同,如上所述可能需要考虑 BSSE:本例中,将空位 Ga 原子改为 ghost,而不真正删除 Ga 原子,如此得到晶体的总能量,作为方程(2)的第一项即可。也就是上表中的 ATK-PBE - ghost atom 栏。 | ||
+ | ==== 参考与注释 ==== | ||