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adf:tdcdft

这是本文档旧的修订版!


使用TD-CDFT计算二维材料磁化率、极化率、介电函数、折射指数

参数设置

二维材料的建模,参考:从三维晶体切割出二维表面,本文以单层MoS2为例。三维、一维材料计算过程类似。参数设置如下:

tdcdft01.jpg

这里Method选择Newresponse;计算从1.0~3.0eV的61个频率(波长和能量的转换参考:能量的单位);计算介电张量的zz方向分量,用户可以根据自己需要勾选:

由于介电函数的数值依赖于二维体系的体积,而体积具有任意性(比如不同超胞对应的体积就不一样,但理论上得到的应该是一样的介电函数才对)。我们可以调整上图中的Volume cutoff项,让计算得到的静态介电常数与实际符合。之后使用这个Volume cutoff计算頻变介电常数。对于三维晶格则没有这个问题,低维材料如果知道材料的密度,从而建模成三维晶格模型,也就没有这个问题。

保存任务,并运行。

结果查看

ADF logo > Spectra,本例只计算了z方向分量,所以默认显示ZZ分量介电函数。

tdcdft03.jpg

Spectra窗口 > 菜单栏Spectra > TD-CDFT > 可以查看磁化率、极化率、介电函数、折射指数的zz分量。

所谓介电常数,是指外加电场频率趋近于0的情况下,介电函数的值,因此“stating frequency”和“end frequency”可以设置为接近0,例如0.0001、1,通过得到的介电函数趋近于0的渐进值得到介电常数。

adf/tdcdft.1571626203.txt.gz · 最后更改: 2019/10/21 10:50 由 liu.jun

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