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atk:使用ivcharacteristics工具计算分析器件的电流电压特性

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atk:使用ivcharacteristics工具计算分析器件的电流电压特性 [2018/08/24 07:49] – [计算漏极诱导势垒降低(DIBL)] fermiatk:使用ivcharacteristics工具计算分析器件的电流电压特性 [2018/08/24 08:01] (当前版本) – [概述] fermi
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   * 在计算正常结束后,补算新的电压点,而不需重复已经完成的计算;   * 在计算正常结束后,补算新的电压点,而不需重复已经完成的计算;
   * 分析开关比($\mathrm{I_{on}/I_{off}}$),亚阈值斜率($\mathrm{SS}$),转移电导(transconductance,$\mathrm{g_{m}}$)和漏极诱导势垒降低(drain-induced barrier lowering, $\mathrm{DIBL}$)((S. M. Sze and K. N. Kwok. Physics of Semiconductor Devices. Wiley, 3rd edition, 2006));   * 分析开关比($\mathrm{I_{on}/I_{off}}$),亚阈值斜率($\mathrm{SS}$),转移电导(transconductance,$\mathrm{g_{m}}$)和漏极诱导势垒降低(drain-induced barrier lowering, $\mathrm{DIBL}$)((S. M. Sze and K. N. Kwok. Physics of Semiconductor Devices. Wiley, 3rd edition, 2006));
-  * 还支持在扫描偏压的同时,计算PLDOS、电子密度、各种电势、电荷布居、能量、电子密度、能量等; +  * 还支持在扫描偏压的同时,计算PLDOS、电子密度、各种电势、电荷布居、电子密度、能量等; 
-  * 也可以在计算完成后,补算任意偏压、栅压点的PLDOS、电子密度、各种电势、电荷布居、能量、电子密度、能量等。+  * 也可以在计算完成后,补算任意偏压、栅压点的PLDOS、电子密度、各种电势、电荷布居、电子密度、能量等。
  
  
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 ===== IV计算结束后补算其他性质 ===== ===== IV计算结束后补算其他性质 =====
  
-在IVCharacteristics计算结束后,可以补充其他性质的计算,这只要在脚本中读入IVCharacteristics,在后面补充类似: +在IVCharacteristics计算结束后,可以补充其他性质的计算,这只要在脚本中读入IVCharacteristics,在后面补充类似: 
-<code>+<code python>
 iv_characteristics.addProjectedLocalDensityOfStates(  iv_characteristics.addProjectedLocalDensityOfStates( 
     gate_source_voltages, drain_source_voltages)      gate_source_voltages, drain_source_voltages) 
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 ===== 参考 ===== ===== 参考 =====
- +  * [[https://docs.quantumwise.com/manual/includes/Study.html|什么是Study Object?]] 
- +  * 英文教程:[[https://docs.quantumwise.com/tutorials/ivcharacteristics/ivcharacteristics.html]] 
- +  * 手册说明:[[https://docs.quantumwise.com/manual/Types/IVCharacteristics/IVCharacteristics.html#NL.Study.IVCharacteristics.IVCharacteristics]]
atk/使用ivcharacteristics工具计算分析器件的电流电压特性.1535068170.txt.gz · 最后更改: 2018/08/24 07:49 由 fermi

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