软件版本：O-2018.06

本教程介绍如何使用IVCharacteristics工具计算分析器件的电流电压特性。这是QuantumATK开发的一类新的Study对象，专门用于多步骤的复杂计算流程的设置、分析。

IVCharacteristics是一个Study Object（什么是Study Ojbect），用来计算和分析场效应管（FET）器件模型的常见电子性质，例如开关比（$\mathrm{I_{on}/I_{off}}$），亚阈值斜率（$\mathrm{SS}$），转移电导（transconductance，$\mathrm{g_{m}}$）和漏极诱导势垒降低（drain-induced barrier lowering, $\mathrm{DIBL}$）¹⁾。

本教程介绍如何使用IVCharacteristics计算并分析silicon-on-insulator（SOI）器件的电子性质，这些性质都有实验结果供参照。教程中使用SOI器件的结构是预先构建好的，用来计算$\mathrm{SS}$和$\mathrm{DIBL}$。