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adf:tadf_oled [2019/09/17 09:52] – [第三代OLED材料性能的第一性原理计算:通过DFT预测TADF逆向系间窜跃速率(JACS, 2017)] liu.jun | adf:tadf_oled [2020/06/23 20:39] (当前版本) – [第三代OLED材料性能的第一性原理计算:通过DFT预测TADF逆向系间窜跃速率 (JACS, 2017)] liu.jun | ||
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- | ======第三代OLED材料性能的第一性原理计算:通过DFT预测TADF逆向系间窜跃速率 (JACS, 2017)====== | + | ======文献重现:通过DFT预测第三代OLED材料TADF逆向系间窜跃速率 (JACS, 2017)====== |
=====前言===== | =====前言===== | ||
由于智能手机电子屏等巨大市场规模,OLED材料和有机电子学是一个非常活跃的研究和工业发展领域。本教程旨在说明如何模拟和研究OLED材料的高级电致发光现象,包括对该专题进行了一般性介绍,以及具体的研究方法。相关的研究方法主要基于下列文献: | 由于智能手机电子屏等巨大市场规模,OLED材料和有机电子学是一个非常活跃的研究和工业发展领域。本教程旨在说明如何模拟和研究OLED材料的高级电致发光现象,包括对该专题进行了一般性介绍,以及具体的研究方法。相关的研究方法主要基于下列文献: | ||
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\[k_{RISC} = \frac{2 \pi}{\hbar} V_{SOC}^2 \frac{1}{\sqrt{4 \pi \lambda k_B T}} {\rm exp} \left[ - \frac{(\Delta E_{ST} + \lambda)^2}{4 \lambda k_B T} \right]\] | \[k_{RISC} = \frac{2 \pi}{\hbar} V_{SOC}^2 \frac{1}{\sqrt{4 \pi \lambda k_B T}} {\rm exp} \left[ - \frac{(\Delta E_{ST} + \lambda)^2}{4 \lambda k_B T} \right]\] | ||
- | ===公式2:基于基于Marcus-Levich-Jortner理论=== | + | ===公式2:基于Marcus-Levich-Jortner理论=== |
\[k_{RISC} = \frac{2 \pi}{\hbar} V_{SOC}^2 \frac{1}{\sqrt{4 \pi \lambda_M k_B T}} \sum_{n=0}^{\infty} {\rm exp}(-S) \frac {S^n}{n!} {\rm exp} \left[ - \frac{(\Delta E_{ST} + n \hbar \omega_{eff} + \lambda_M)^2}{4 \lambda k_B T} \right]\] | \[k_{RISC} = \frac{2 \pi}{\hbar} V_{SOC}^2 \frac{1}{\sqrt{4 \pi \lambda_M k_B T}} \sum_{n=0}^{\infty} {\rm exp}(-S) \frac {S^n}{n!} {\rm exp} \left[ - \frac{(\Delta E_{ST} + n \hbar \omega_{eff} + \lambda_M)^2}{4 \lambda k_B T} \right]\] |