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颗粒分析

Simpleware 软件中的 Particle analysis 工具能够分析表征颗粒图像数据的分割掩膜。表示颗粒的掩膜可以是图像数据中颗粒区域的阈值,也可以是已经被分离为单独标记颗粒的多标签掩膜。包含两种颗粒分析的类型:Touching(相互接触的颗粒)和 Isolated(相互分离的颗粒)。

1. 通用工作流程

设置和运行颗粒分析的通用工作流程如下:

  1. 选择掩膜和背景图像(可选项)添加到 Dataset browser 下的 Particle analysis。
  2. 选择所需分析类型,相互接触的颗粒选择 Touching,相互分离的颗粒选 Isolated。
  3. 设置分析参数。
  4. 运行分析并查看统计输出、绘制图片和可视化结果。
  5. 根据需要导出结果。

2. 设置分析

在 Dataset browser:

  1. 右键单击 Analysis 选择 Create a new Particle analysis,创建一个 Particle analysis 项目。
  2. 选中并拖拽表示颗粒的掩膜放在新建的 Particle (Particle analysis) 下方,掩膜是最低的要求。也可以同时将背景图像拖放到这里,在进行 Touching 类型分析时会有附加的其他选项。
  3. 软件上方功能区将出现 Particle analysis 标签,并自动打开 Setup Particle analysis 工具。

注:如果将多标签掩膜添加到分析中,则会认为颗粒已被正确分割好,将不会有任何进一步分离颗粒的操作。

2.1 运行 Touching 颗粒分析

2.2 运行 Isolated 颗粒分析

3. 分析结果

3.1统计数据

Statistics 工具显示分析样品或指定局部区域内颗粒分析结果。如果要指定统计分析的局部区域,可以通过 Apply on 下拉菜单中的 Regions of interest 选择一个或多个区域。

体积

体积分数

尺寸

形状

在 Statistics 工具面板下方,点击 Export… 可以将统计数据导出为 CSV 或 TXT 文件。

绘图

点击 Statistics 工具面板下方的 Plot… 打开 Particle analysis statistics plots 窗口,为生成和查看方向分析的各种图表提供选项:

所有绘图都能够以 PNG 图片形式导出,或者点击 Export… 以 CSV 格式导出分箱数据。

3.2 颗粒可视化

Particle visualisation 工具基于各种指标可视化颗粒。

3.21 统计

提供一系列与颗粒可视化相关的统计选项

3.22 直方图模式

3.23 配色方案

3.3 映射到网格

具有 Simpleware FE 模块许可的用户可以导出与 FE 模型对应的颗粒体积分数数据,但在使用 Map to mesh 工具之前必须要先设置网格划分参数并通过 Full model 生成网格模型。

使用 Map to mesh 工具

  1. 从 Model 下拉菜单选择 FE 模型
  2. 勾选 Volume fraction
  3. 点击 Export 创建 *.csv 或 *.txt 文件

4. 参考